• 為什么有些LDO需要串聯(lián)或并聯(lián)一個二極管?在電路里有什么用?
    Part 01 前言 我們有時候會在一些電路里看到有些LDO需要串聯(lián)或并聯(lián)了一個二極管,這是為什么呢?LDO分為雙極型LDO和MOSFET型LDO,雙極型LDO因內(nèi)部寄生二極管可能導致?lián)p壞,需始終加裝保護二極管。MOSFET型LDO因體二極管的存在,反接電流可被部分容忍,但是反接電流過大,一樣也不行,所以當輸入/輸出電壓反接時,反向電流可能損壞LDO IC內(nèi)部結構。為此,反接保護電路設計很重要。接
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    06/26 16:58
    LDO
  • 芯片ATE測試綜述
    ATE(Automatic Test Equipment),即自動測試設備,在電子元器件、尤其是半導體芯片的生產(chǎn)制造流程中扮演著不可或缺的關鍵角色。隨著現(xiàn)代芯片集成度的不斷提高以及功能的日益復雜化,對芯片測試的要求也水漲船高,ATE憑借其高效的自動化測試能力,不僅大幅提升了測試效率,更在確保產(chǎn)品質(zhì)量、降低生產(chǎn)成本以及縮短研發(fā)周期等方面發(fā)揮了極為重要的作用,已經(jīng)成為半導體制造行業(yè)不可或缺的核心設備之一。
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    06/26 09:51
    芯片ATE測試綜述
  • 高精LiDAR+神經(jīng)渲染3DGS的完美融合實踐
    在自動駕駛仿真測試剛需下,數(shù)字孿生成提升保真度關鍵。本文介紹傳統(tǒng)與前沿結合的構建流程,先通過數(shù)據(jù)采集、點云聚合等完成高精地圖重建,再以NeRF+3DGS實現(xiàn)神經(jīng)網(wǎng)絡重建,降本增效,為仿真注入真實感,重塑測試范式。
    高精LiDAR+神經(jīng)渲染3DGS的完美融合實踐
  • EFT的頻譜測量與通用診斷分析方法
    電快速瞬變脈沖群(EFT)抗擾度是一種通用性強、測試方便、能高效暴露風險的EMS測試項目——通過模擬電網(wǎng)拉弧產(chǎn)生的一系列快速高壓尖峰脈沖來評估產(chǎn)品對瞬態(tài)高壓耐受能力同時暴露產(chǎn)品對瞬態(tài)射頻電場的耐受風險。本文對EFT脈沖的能量和頻譜進行了分析和實測,對EFT耦合產(chǎn)生的電場進行了評估,對工程中較為實用的近場探頭電場注入、直接注入進行了介紹,并推薦利用波形發(fā)生器模擬EFT脈沖直接注入的診斷分析方法和EFT防護器件的實測方法供大家在EMC開發(fā)中參考。
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    06/06 11:39
    EFT的頻譜測量與通用診斷分析方法
  • EMI 基礎知識和板級屏蔽設計
    在當今充斥著數(shù)字電子設備的世界中,電磁干擾 (EMI) 是軍事和商業(yè)市場的主要關注點。電氣設備由于它們的存在而容易受到這些不良輻射和故障的影響。
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    06/06 11:37
    EMI
    EMI 基礎知識和板級屏蔽設計
  • 【車內(nèi)消費類接口測試】 泰克賦能V-by-One HS技術在汽車電子測試領域的應
    隨著智能汽車技術的飛速發(fā)展,汽車電子系統(tǒng)對高清視頻和音頻傳輸?shù)男枨蟛粩嘣黾?。V-by-One HS作為一種高性能的串行化接口技術,憑借其高帶寬、低功耗和高可靠性等特點,被廣泛應用于汽車電子系統(tǒng)中。本文將介紹V-by-One HS技術的核心特性、應用場景以及泰克公司提供的測試解決方案。 V-by-One HS技術的核心特性 V-by-One HS是日本賽恩電子公司(THine)獨立開發(fā)的專用于視頻信
    【車內(nèi)消費類接口測試】  泰克賦能V-by-One HS技術在汽車電子測試領域的應

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