PLL鎖相環(huán)基礎知識(三)

06/20 08:39
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接著上兩篇文章:PLL鎖相環(huán)基礎知識(一)、PLL鎖相環(huán)基礎知識(二)

在本篇文章我們將探討相位噪聲性能指標、由環(huán)路濾波器傳遞函數(shù)所決定的噪聲特性塑造,以及這些知識在實際設計中的應用。理解這些關鍵性能參數(shù),對于實現(xiàn)一個干凈、穩(wěn)定的鎖相環(huán)設計有很大幫助。

在討論噪聲特性之前,讓我們快速回顧一下鎖相環(huán)的相關知識。鎖相環(huán)的作用是使來自R分頻器的信號與來自N分頻器的反饋信號在相位上保持一致。大多數(shù)相位噪聲傳遞函數(shù)都與N分頻器、壓控振蕩器(VCO)、鑒相器和環(huán)路濾波器有關。

正如在之前的文章中所討論的,鎖相環(huán)的環(huán)路帶寬并非僅由低通濾波器決定。改變這些參數(shù)中的任何一個,如壓控振蕩器增益(KVCO)、鑒相器增益(KPD)和N分頻器的值,也會影響閉環(huán)帶寬。對于基本的鎖相環(huán)結構,我們可以定義一些基本的傳遞函數(shù)和符號,以幫助理解相位噪聲。

鎖相環(huán)的傳遞函數(shù)可以通過經(jīng)典控制環(huán)路理論推導得出。G?有時被稱為開環(huán)增益或開環(huán)傳遞函數(shù),它被定義為從鑒相器輸入到鎖相環(huán)輸出的增益,其中s是復頻率。開環(huán)增益由鑒相器的電荷增益常數(shù)(KPD)、環(huán)路濾波器傳遞函數(shù)(Z?)以及壓控振蕩器輸入電壓與相位的關系(KVCO/s)組成。雖然頻率路徑簡單來說是1/N,但為了與標準控制理論中反饋的符號表示一致,我們現(xiàn)在將其表示為H。

為了推導傳遞函數(shù),需要在每個感興趣的點放置一個求和模塊,并在閉環(huán)條件下求解輸出噪聲與輸入噪聲的比值。你可能會注意到,除了壓控振蕩器之外,所有模塊都乘以了低通函數(shù)G/(1+GH)。而壓控振蕩器乘以了高通傳遞函數(shù)1/(1+GH)。

讓我們更仔細地研究一下這些傳遞函數(shù),對于參考振蕩器,注意到有1/R這個因子,這意味著較高的R分頻器值更好。然而,如果使用相同的振蕩器頻率(Fosc),N分頻器會隨著R成比例增加。所以從理論上講,增益不會改變。

另一方面,如果增加振蕩器頻率(Fosc),并將其分頻到相同的鑒相器頻率,那么通常會有性能提升。這是因為較高的振蕩器頻率在按比例縮放頻率時,通常具有更好的噪聲性能。

鎖相環(huán)的N分頻器將壓控振蕩器的頻率和相位除以N。這意味著在壓控振蕩器的相位噪聲到達鑒相器之前,它會被降低N倍。由于閉環(huán)系統(tǒng)的特性,鎖相環(huán)的帶內噪聲會有效地乘以20*logN。

例如,N計數(shù)器的值為100時,相當于帶內噪聲增益為40dB。換句話說,如果將N減半,理論上噪聲會改善6dB。這個原理同樣適用于R計數(shù)器。對于N計數(shù)器和R計數(shù)器,只要鑒相器的速率不變,這個規(guī)則就成立。對于環(huán)路外的分頻器,比如輸出分頻器,較高的分頻值也會降低輸出端的噪聲。

對于鑒相器,注意到有1/K PD這個因子。這意味著從理論上講,更高的電荷泵電流可以使性能提升6dB。然而,這并沒有考慮到隨著增益增加,電荷泵噪聲本身也會增加這一事實。在實際應用中,通常會有一定的改善,但達不到完整的6dB。

根據(jù)特定的鎖相環(huán)器件特性,可能存在收益遞減的情況,即增加電荷泵電流對相位噪聲改善的作用越來越小。例如,將電荷泵電流從1600uA增加到3200uA時,你可能不會像將其從100uA增加到200uA時那樣獲得相同的相對收益。

如前所述,壓控振蕩器具有不同的傳遞函數(shù)。對于遠在環(huán)路帶寬之外的頻率,其增益可以近似為單位增益;對于在環(huán)路帶寬之內的頻率,其增益為N除以開環(huán)增益。對于歸一化的鎖相環(huán)帶內噪聲分析,我們可以假設壓控振蕩器的噪聲不是主要貢獻因素。

當把所有這些噪聲源相加時,我們就得到了鎖相環(huán)的帶內噪聲。這里我們看到一個閉環(huán)噪聲貢獻的示例。注意,鎖相環(huán)的平坦噪聲和1/f噪聲會相加。在大約2KHz以下的較低偏移頻率處,平坦噪聲沒有貢獻,但輸入?yún)⒖荚肼晻a(chǎn)生額外影響。在大約10KHz處,平坦噪聲和1/f噪聲對總相位噪聲的貢獻相等。在1MHz以上,噪聲在很大程度上遵循壓控振蕩器的噪聲特性。

為了簡化特性描述,可以將除壓控振蕩器之外的所有鎖相環(huán)帶內噪聲貢獻歸為一類。歸一化的平坦噪聲品質因數(shù)和1/f噪聲為預測鎖相環(huán)環(huán)路帶寬內的噪聲提供了一種便捷的方法。這些歸一化值考慮了電荷泵、輸入路徑、N分頻器和R分頻器的影響。

品質因數(shù)和1/f噪聲可用于預測相位噪聲,并在兩種不同條件下比較兩個不同鎖相環(huán)的相位噪聲。請注意,品質因數(shù)假設壓控振蕩器的噪聲不是主導因素。對于分數(shù)部分可能需要進行一些調整,因為這確實考慮到了較低分數(shù)N計數(shù)器在相位噪聲方面的優(yōu)勢。

在環(huán)路內,在中等偏移頻率下,主要的噪聲源是鎖相環(huán)的本底噪聲,即所謂的品質因數(shù)。你可能還記得這種平坦噪聲,因為你可以看到這個圖——其頻率響應是一條平坦的線。其定義如下,其中N是N計數(shù)器的值,fPD是鑒相器頻率(單位:Hz),PN是相位噪聲。

對于接近載波的偏移頻率,鎖相環(huán)的噪聲特性是閃爍噪聲,有時也稱為1/f噪聲,因為其噪聲功率與頻率成反比。因此,可以對偏移頻率和輸出頻率進行歸一化,以得到這個歸一化的1/f噪聲指數(shù)。

在這種情況下,fout是輸出頻率,Δf是相對于載波的1/f偏移頻率,PN是相位噪聲。當使用鎖相環(huán)相位噪聲軟件進行仿真時,這些參數(shù)可用于檢測鎖相環(huán)的相位噪聲,并且與測量得到的相位噪聲數(shù)據(jù)有很好的相關性。這兩個噪聲源的源數(shù)據(jù)通??梢栽跀?shù)據(jù)手冊中找到。

通常,1/f噪聲和品質因數(shù)分別優(yōu)于-120dB/Hz和-230dB/Hz。

這張表格提供了一些關于鎖相環(huán)壓控振蕩器設計中設計選擇的指導,通過這些選擇可以改善相位噪聲性能。一般來說,能夠實現(xiàn)較高鑒相器頻率的架構將提供更好的相位噪聲特性。請記住,再巧妙的設計或優(yōu)化都無法彌補使用具有高固有噪聲的組件所帶來的問題。在滿足應用成本目標的同時,選擇最佳的參考時鐘輸入始終是一個合理的設計決策。如果對于特定應用來說,近載波相位噪聲很重要,那么就選擇那些能提供所需的近載波性能,并且在較高偏移頻率下性能也可接受的組件。

總結

時鐘單元中的時鐘發(fā)生器緩沖器在電子系統(tǒng)設計中均扮演著不可或缺的角色。時鐘發(fā)生器通過集成多路時鐘源、靈活的配置選項、支持寬電源電壓范圍及多樣的溫度等級,有效簡化了系統(tǒng)設計、提升了可靠性,并滿足了不同應用場景對抖動性能的差異化需求。而時鐘緩沖器則憑借對單端與差分信號的支持、多電源架構的適應性、優(yōu)化的信號分配能力及對相位噪聲與抖動的精細控制,確保了時鐘信號在復雜系統(tǒng)中的穩(wěn)定傳輸與精準分配。兩者協(xié)同工作,共同為現(xiàn)代電子系統(tǒng)的高效運行提供了堅實的時鐘基礎。

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