芯耀
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數(shù)字世界飛速演進，測試測量同步突破！本次專訪帶您走進羅德與施瓦茨“全域智聯(lián)臻享展廳”，聚焦其尖端測試解決方案，看R&S如何以硬核測試科技，為數(shù)據(jù)中心、芯片設(shè)計等關(guān)鍵領(lǐng)域提速，重構(gòu)數(shù)字未來基準維度！
主持人：大家好！歡迎來到羅德與施瓦茨的全域智聯(lián)臻享展廳。我身邊這位是羅德與施瓦茨的業(yè)務(wù)發(fā)展經(jīng)理裴英良，英良你好！
裴英良：主持人你好！
主持人：羅德與施瓦茨提出“芯片測試重構(gòu)數(shù)字未來的基準維度”。那么針對芯片領(lǐng)域，羅德與施瓦茨有什么前沿的技術(shù)和方案跟大家分享呢？
裴英良：好的主持人。羅德與施瓦茨一直致力于為芯片設(shè)計、生產(chǎn)研發(fā)企業(yè)提供具有前瞻性的測試測量解決方案。那我們本次活動呢，也是基于“芯片測試重構(gòu)數(shù)字未來基準維度”這一理念，為芯片半導(dǎo)體行業(yè)在四種不同領(lǐng)域提供了四個不同的測試測量解決方案。
我們第一套方案是寬禁帶半導(dǎo)體器件測試解決方案。那本套方案主要是面向于第三代寬禁帶半導(dǎo)體，比如說碳化硅氮化鎵這類芯片。用戶可以使用我們這套方案，在器件實際工作的場景下去測試它器件的效率以及性能指標。那憑借我們優(yōu)秀的光隔離探頭以及示波器大動態(tài)范圍，來去滿足客戶的應(yīng)用。
我們第二套解決方案是高速時鐘抖動及相噪測試方案。那這套方案主要面向于高速時鐘以及模擬鎖相環(huán)這類芯片。羅德與施瓦茨憑借其全球領(lǐng)先的時鐘以及相位噪聲測試儀表FSWP，來保證時鐘信號的一個測試。
第三套方案是通道信號完整性測試方案。那本套方案呢，主要針對于目前高速信號通道以及SerDes接口這樣類型的應(yīng)用。那我們本次帶來的是ZNA67這臺儀表，那它憑借其本身優(yōu)秀的帶寬以及極高的動態(tài)范圍，以及可靈活拓展至110GHz，來滿足當下112G、224G以及未來448G高速信號通道的信號完整性測試。
我們最后一個方案是在射頻芯片領(lǐng)域下帶來的寬帶調(diào)制負載牽引測試解決方案。那本套方案呢，創(chuàng)新的使用了大帶寬的信號發(fā)生器以及大帶寬的示波器來組成。那本套方案呢，特點在于說可以測試在復(fù)雜調(diào)制信號下的一個射頻芯片的端口匹配、線性度以及EVM的特性。
主持人：剛剛英良提到了射頻芯片以及功率半導(dǎo)體的相關(guān)解決方案。那在這些領(lǐng)域，能否詳細的跟我們介紹一下，羅德與施瓦茨是如何幫助半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)實現(xiàn)升級迭代的？
裴英良：好的，羅德與施瓦茨始終關(guān)注半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)的技術(shù)迭代以及技術(shù)升級。在射頻芯片領(lǐng)域呢，羅德與施瓦茨憑借自身信號分析儀以及信號發(fā)生器，不斷突破自己的測試帶寬以及測試動態(tài)范圍，去滿足當下5G、Wifi 7、毫米波雷達、衛(wèi)星通信，甚至是未來6G信號體制下的復(fù)雜信號分析以及測試。
那另一方面，使用矢量信號分析儀去測試射頻SoC芯片、PA芯片、LNA芯片以及濾波器芯片這類復(fù)雜的射頻芯片它的性能指標，幫助企業(yè)在研發(fā)初期就確定關(guān)鍵的參數(shù)，縮短整體的設(shè)計周期以及流片周期，幫助企業(yè)節(jié)省成本。
在功率半導(dǎo)體領(lǐng)域，羅德與施瓦茨鎖定高功率、大電壓、大電流、高速率這個行業(yè)趨勢，使用光隔離探頭以及高精度的示波器，去測試當下火熱的第三代寬禁帶半導(dǎo)體靜態(tài)測試、動態(tài)測試以及開關(guān)測試。
最后，羅德與施瓦茨還與行業(yè)內(nèi)的生態(tài)合作伙伴、科研院所以及頭部的芯片廠家深度合作，去制定行業(yè)測試標準，推動全球半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)的創(chuàng)新協(xié)同發(fā)展。
主持人：好的，那在構(gòu)建AI數(shù)字未來領(lǐng)域，羅德與施瓦茨推出了一系列的解決方案。能否請你介紹一下，這些解決方案的優(yōu)勢以及幫助行業(yè)客戶解決了哪些痛點？
裴英良：針對于AI芯片以及高性能計算芯片大規(guī)?；ヂ?lián)的需求，那目前高速信號的完整性測試是一個行業(yè)的難點以及挑戰(zhàn)。羅德與施瓦茨提供67GHz、110GHz高帶寬的矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀，去完成高速信號的信號完整性測試。
另一方面，在AI計算集群的系統(tǒng)中，整個系統(tǒng)的時鐘同步是一個測試難點以及挑戰(zhàn)。羅德與施瓦茨的時鐘抖動以及相位噪聲測試解決方案，可以幫助AI集群以及服務(wù)器內(nèi)部的時鐘模塊完成高效權(quán)威的驗證，有效避免整個系統(tǒng)因為時序問題導(dǎo)致的算力異常和損失。
主持人：好的，面對AI智算中心的演進發(fā)展測試技術(shù)推動產(chǎn)業(yè)創(chuàng)新應(yīng)用落地，羅德與施瓦茨在推動產(chǎn)業(yè)升級中發(fā)揮了怎樣的重要作用呢？
裴英良：AI智算中心是未來數(shù)字經(jīng)濟和智能社會的關(guān)鍵算力基礎(chǔ)設(shè)施。那在這一趨勢下，測試測量作為產(chǎn)業(yè)升級的隱形關(guān)鍵力量，羅德與施瓦茨承擔(dān)著創(chuàng)新理論與應(yīng)用大規(guī)模落地之間的核心橋梁作用。
首先，羅德與施瓦茨精準的把握智算中心對于大規(guī)模、高帶寬、高可靠性芯片的高速互聯(lián)的測試要求。那其中針對于高速SerDes以及高速信號通道的信號完整性測試，推出了一系列的測試解決方案。同時還針對于數(shù)據(jù)中心的服務(wù)器、交換芯片以及互聯(lián)線纜，推出了高效的測試工具鏈，來幫助產(chǎn)業(yè)內(nèi)的合作伙伴以及客戶完成系統(tǒng)級的測試。
另一方面，在智算中心大規(guī)模異構(gòu)計算以及綠色低功耗的設(shè)計趨勢之下，羅德與施瓦茨還依據(jù)自己的電源產(chǎn)品、示波器產(chǎn)品，為電源管理芯片、電源管理模塊提供了高效的測試測量解決方案，助力客戶打造高效、低功耗的計算集群。
同時，羅德與施瓦茨還與行業(yè)內(nèi)的合作伙伴、聯(lián)合芯片廠家、服務(wù)器廠家以及系統(tǒng)集成商，積極參與行業(yè)內(nèi)標準以及生態(tài)聯(lián)盟的建設(shè)，共同為下一代智算中心的測試標準以及性能評判體系貢獻力量，為整個AI產(chǎn)業(yè)的發(fā)展提供了重要的驅(qū)動力。
主持人：好的，謝謝英良的精彩講解！我相信，羅德與施瓦茨推出的關(guān)于芯片創(chuàng)新測試測量解決方案將給行業(yè)帶來積極的變化。同時我也相信，羅德與施瓦茨的全套解決方案將推動半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)不斷升級迭代。
