WAT SPC Review
WAT SPC Review 是晶圓制造中,特別是PIE所負(fù)責(zé)的一個關(guān)鍵過程,主要涉及對 WAT(Wafer Acceptance Test,晶圓驗收測試)結(jié)果的 SPC(Statistical Process Control,統(tǒng)計過程控制)分析和評審。這一過程的目的是確保制造過程中產(chǎn)品的質(zhì)量穩(wěn)定性,及時發(fā)現(xiàn)潛在的制程問題,確保生產(chǎn)線的順暢和產(chǎn)品的合格。