• 為什么有些LDO需要串聯(lián)或并聯(lián)一個二極管?在電路里有什么用?
    Part 01 前言 我們有時候會在一些電路里看到有些LDO需要串聯(lián)或并聯(lián)了一個二極管,這是為什么呢?LDO分為雙極型LDO和MOSFET型LDO,雙極型LDO因內部寄生二極管可能導致?lián)p壞,需始終加裝保護二極管。MOSFET型LDO因體二極管的存在,反接電流可被部分容忍,但是反接電流過大,一樣也不行,所以當輸入/輸出電壓反接時,反向電流可能損壞LDO IC內部結構。為此,反接保護電路設計很重要。接
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    06/26 16:58
    LDO
  • 芯片ATE測試綜述
    ATE(Automatic Test Equipment),即自動測試設備,在電子元器件、尤其是半導體芯片的生產制造流程中扮演著不可或缺的關鍵角色。隨著現(xiàn)代芯片集成度的不斷提高以及功能的日益復雜化,對芯片測試的要求也水漲船高,ATE憑借其高效的自動化測試能力,不僅大幅提升了測試效率,更在確保產品質量、降低生產成本以及縮短研發(fā)周期等方面發(fā)揮了極為重要的作用,已經成為半導體制造行業(yè)不可或缺的核心設備之一。
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    06/26 09:51
    芯片ATE測試綜述
  • 高精LiDAR+神經渲染3DGS的完美融合實踐
    在自動駕駛仿真測試剛需下,數字孿生成提升保真度關鍵。本文介紹傳統(tǒng)與前沿結合的構建流程,先通過數據采集、點云聚合等完成高精地圖重建,再以NeRF+3DGS實現(xiàn)神經網絡重建,降本增效,為仿真注入真實感,重塑測試范式。
    高精LiDAR+神經渲染3DGS的完美融合實踐
  • EFT的頻譜測量與通用診斷分析方法
    電快速瞬變脈沖群(EFT)抗擾度是一種通用性強、測試方便、能高效暴露風險的EMS測試項目——通過模擬電網拉弧產生的一系列快速高壓尖峰脈沖來評估產品對瞬態(tài)高壓耐受能力同時暴露產品對瞬態(tài)射頻電場的耐受風險。本文對EFT脈沖的能量和頻譜進行了分析和實測,對EFT耦合產生的電場進行了評估,對工程中較為實用的近場探頭電場注入、直接注入進行了介紹,并推薦利用波形發(fā)生器模擬EFT脈沖直接注入的診斷分析方法和EFT防護器件的實測方法供大家在EMC開發(fā)中參考。
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    06/06 11:39
    EFT的頻譜測量與通用診斷分析方法
  • EMI 基礎知識和板級屏蔽設計
    在當今充斥著數字電子設備的世界中,電磁干擾 (EMI) 是軍事和商業(yè)市場的主要關注點。電氣設備由于它們的存在而容易受到這些不良輻射和故障的影響。
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    06/06 11:37
    EMI
    EMI 基礎知識和板級屏蔽設計
  • 【車內消費類接口測試】 泰克賦能V-by-One HS技術在汽車電子測試領域的應
    隨著智能汽車技術的飛速發(fā)展,汽車電子系統(tǒng)對高清視頻和音頻傳輸的需求不斷增加。V-by-One HS作為一種高性能的串行化接口技術,憑借其高帶寬、低功耗和高可靠性等特點,被廣泛應用于汽車電子系統(tǒng)中。本文將介紹V-by-One HS技術的核心特性、應用場景以及泰克公司提供的測試解決方案。 V-by-One HS技術的核心特性 V-by-One HS是日本賽恩電子公司(THine)獨立開發(fā)的專用于視頻信
    【車內消費類接口測試】  泰克賦能V-by-One HS技術在汽車電子測試領域的應
  • EMI基礎知識和板級屏蔽設計
    在當今充斥著數字電子設備的世界中,電磁干擾 (EMI) 是軍事和商業(yè)市場的主要關注點。電氣設備由于它們的存在而容易受到這些不良輻射和故障的影響。
    EMI基礎知識和板級屏蔽設計
  • 細數高速脈沖測試的挑戰(zhàn)與應對策略,釋放PDV檢測潛力
    作者:泰克科技 Andrea Vinci 高速脈沖測試是現(xiàn)代科學研究的前沿領域,廣泛應用于高能物理探索中的光子多普勒測速(PDV)和寬帶激光測速(BLR)等領域。這些測試需要精確捕捉和分析微秒甚至納秒內發(fā)生的事件,對精度要求極高。微小的測量誤差可能導致顯著差異,進而造成實驗延誤、研究費用增加以及數據完整性受損。 高速脈沖測試面臨諸多挑戰(zhàn),包括數據采集速度、數據保真度、惡劣環(huán)境條件、空間限制、校準與
    細數高速脈沖測試的挑戰(zhàn)與應對策略,釋放PDV檢測潛力
  • TGV轉換板需要做哪些可靠性測試?
    學員問:TGV轉換板在電鍍填充完金屬之后,需要怎樣驗證填充的質量呢?
    TGV轉換板需要做哪些可靠性測試?
  • 芯片可測性設計中的Procedural Description Language
    PDL(Procedural Description Language,過程描述語言)是IEEE 1687(IJTAG)標準的一部分,用于描述對嵌入式器件的操作過程。它是一種高級命令語言,能夠指導器件如何生成測試模式,而不是直接描述測試模式本身。PDL的主要功能是提供一種標準化的方式來描述對嵌入式器件的操作,使得這些操作可以在不同層次的硬件結構中被復用。
    芯片可測性設計中的Procedural Description Language
  • 集成電路制造的質量管控鐵三角:CP、FT 與 WAT 測試解析
    在集成電路制造的復雜流程中,CP(Chip Probing)測試、FT(Final Test)測試和 WAT(Wafer Acceptance Test)測試構成了質量管控的關鍵體系。這三大測試環(huán)節(jié)分別作用于芯片生產的不同階段,擁有獨特的測試目標與對象,如同精密儀器的不同部件,共同保障著芯片產品的可靠性與穩(wěn)定性。
    集成電路制造的質量管控鐵三角:CP、FT 與 WAT 測試解析
  • EMC測試半電波暗室墻壁和房頂上刺頭是啥?為啥地面沒貼呢?有什么用?
    半電波暗室又叫SAC,英文全稱是Semi-Anechoic Chamber,是電磁兼容EMC測試的“秘密基地”,墻壁上貼滿了方方塊塊的刺頭,看起來像個刺猬房。那為啥SAC的墻壁要貼這些東西?到底有什么用呢?
    EMC測試半電波暗室墻壁和房頂上刺頭是啥?為啥地面沒貼呢?有什么用?
  • EMC的接地原來是這樣
    “接地”一詞在不同場合有不同理解:一種是真正意義上的接地(也就是我們平常所說的接大地);另一種是接參考地(設備里的一個公共參考電位點)。設備接大地,是為了設備的安全以及與人員的安全。
    EMC的接地原來是這樣
  • 從直流到高頻,半導體材料電特性參數的全面表征與測量
    從鍺晶體管到 5G 芯片,半導體材料的每一次突破都在重塑人類科技史。Si材料的規(guī)?;瘧瞄_啟了信息時代,SiC/GaN等寬禁帶材料則推動新能源革命。這些進步的背后,材料測試技術始終扮演著 "科技眼睛" 的角色,它不僅能檢測材料導電性、絕緣性等基礎性能,更能揭示原子尺度的微觀奧秘,成為半導體產業(yè)創(chuàng)新的核心驅動力。
    從直流到高頻,半導體材料電特性參數的全面表征與測量
  • 接觸回路電阻測試儀用途及操作 凱迪正大KDHL 100
    武漢凱迪正大KDHL-100 回路電阻測試儀是針對電力系統(tǒng)中高壓開關接觸電阻測量設計的設備,采用直流 100A 測試電流(符合電力部標準要求),可準確測量 1—1999.9μΩ 的回路電阻與接觸電阻(分辨率 0.1μΩ,精度 0.5%),支持數字顯示。 KDHL-100 解決了常規(guī)電橋測試電流不足、受氧化層影響導致測量偏差的問題,適用于電力現(xiàn)場維修及開關廠測試。
  • 泡沫緩沖性能沖擊試驗機在泡棉測試中的應用與技術解析
    泡棉廣泛應用于包裝、汽車內飾、電子防護等領域,其緩沖性能關乎產品安全。泡沫緩沖性能沖擊試驗機通過模擬實際沖擊場景,為泡棉性能研究、質量把控及應用優(yōu)化提供關鍵數據,在泡棉產業(yè)中作用重大。 泡棉特性與緩沖原理 泡棉特性 泡棉一般具有低密度、高彈性和良好柔韌性。常見的聚氨酯、聚乙烯、聚苯乙烯泡棉,因化學結構與工藝不同各有特性。比如聚氨酯泡棉耐磨損、抗撕裂;聚乙烯泡棉防潮防水佳;聚苯乙烯泡棉成本低且有一定
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    04/14 14:10
  • 信號完整性SI基礎知識介紹(一)
    下圖展示了電壓階躍是如何沿著印刷電路板(PCB)走線傳播的。在這個示例中,我們看到一條走線通過 PCB 板的介電材料與接地回流平面分隔開來。當信號沿著走線傳播時,變化的電場和磁場會跟隨波前。電磁波以 1.8×10? m/s的極快速度傳播,而電子從正極到負極的實際傳導速度卻非常慢,僅為 0.01m/s。
    信號完整性SI基礎知識介紹(一)
  • 學子專區(qū)論壇- ADALM2000實驗:脈寬調制
    作者:Antoniu Miclaus,系統(tǒng)應用工程師 目標 在此實驗中,我們將研究脈寬調制及其在各種應用中的使用情況。 脈寬調制(PWM)是一種將模擬信號編碼為單個數字位的方法。PWM信號由定義其行為的兩個主要分量組成:占空比和頻率。 它通過將消息編碼成脈沖信號來傳輸信息,可用于電機等電子設備的功率控制,也可用作光伏太陽能電池充電器的主要算法。 占空比描述了信號處于高電平(開啟)狀態(tài)的時間占完成一
    學子專區(qū)論壇- ADALM2000實驗:脈寬調制
  • 新型離散周期變換方法如何處理生理信號
    作者:Dennis E. Bahr博士,Bahr Management, Inc.總裁兼生物醫(yī)學工程師 Marc Smith,首席工程師 摘要 本文介紹了新型滑動離散周期變換(DPT)算法,可設計用于處理生理信號,尤其是脈搏血氧儀采集的光電容積脈搏波(PPG)信號。該算法采用正弦基函數進行周期域分析,可解決隨機噪聲和非平穩(wěn)數據等難題。DPT在MATLAB?中作為滑動變換實現(xiàn),結合了自相關與系綜平均
    新型離散周期變換方法如何處理生理信號
  • CMOS可靠性測試新趨勢:脈沖技術如何助力AI、5G、HPC?
    在半導體領域,隨著技術的不斷演進,對CMOS(互補金屬氧化物半導體)可靠性的要求日益提高。特別是在人工智能(AI)、5G通信和高性能計算(HPC)等前沿技術的推動下,傳統(tǒng)的可靠性測試方法已難以滿足需求。本文將探討脈沖技術在CMOS可靠性測試中的應用,以及它如何助力這些新興技術的發(fā)展。 引言 對于研究半導體電荷捕獲和退化行為而言,交流或脈沖應力是傳統(tǒng)直流應力測試的有力補充。在NBTI(負偏置溫度不穩(wěn)
    CMOS可靠性測試新趨勢:脈沖技術如何助力AI、5G、HPC?

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