全球領(lǐng)先的測試測量技術(shù)企業(yè)艾德克斯電子有限公司(ITECH)近日宣布,憑借在半導(dǎo)體測試領(lǐng)域的創(chuàng)新技術(shù)與卓越服務(wù),公司榮膺2025中國IC設(shè)計成就獎“年度杰出測試測量供應(yīng)商”。這一行業(yè)權(quán)威獎項的獲得,標志著ITECH在半導(dǎo)體測試細分市場的技術(shù)領(lǐng)導(dǎo)力與產(chǎn)業(yè)貢獻再獲高度認可。
技術(shù)引領(lǐng),賦能半導(dǎo)體全產(chǎn)業(yè)鏈
作為中國電子產(chǎn)業(yè)鏈上游服務(wù)的標桿獎項,中國IC設(shè)計成就獎旨在表彰推動產(chǎn)業(yè)發(fā)展的技術(shù)創(chuàng)新者。ITECH通過覆蓋半導(dǎo)體材料驗證、晶圓制造、封裝測試全環(huán)節(jié)的測試解決方案,助力客戶突破技術(shù)瓶頸。其核心產(chǎn)品包括:
- IT2800系列高精密源/測量單元(SMU):以0.1μV/10nA超高精度實現(xiàn)半導(dǎo)體器件IV特性測試,為材料研究與芯片研發(fā)提供關(guān)鍵數(shù)據(jù)支撐;
- IT6000C高速可編程直流電源與IT6400雙極性電源:通過μs級動態(tài)響應(yīng)能力,高效完成功率器件雙脈沖測試及動態(tài)參數(shù)分析;
- IT-M3140高壓老化電源與IT-M3900系列低壓大電流電源:滿足HTRB/HTGB/H3TRB等嚴苛可靠性測試需求,保障車規(guī)級芯片與高功率器件的長期穩(wěn)定性。
亮相國際舞臺,展示硬核實力
在2025年3月27-28日舉辦的國際集成電路展覽會暨研討會(IIC Shanghai 2025)上,ITECH攜最新半導(dǎo)體測試方案重磅登場。展會期間,其展臺吸引了來自光電產(chǎn)業(yè)、研究機構(gòu)及全球頭部芯片企業(yè)的廣泛關(guān)注。現(xiàn)場演示的功率循環(huán)老化測試系統(tǒng)與多通道并行測試平臺,展現(xiàn)了ITECH在復(fù)雜測試場景下的高效協(xié)同能力,為晶圓廠與封測企業(yè)降本增效提供新思路。
深耕創(chuàng)新,驅(qū)動行業(yè)未來
“此次獲獎是對ITECH技術(shù)實力的肯定,更是激勵我們持續(xù)突破的動力。”ITECH半導(dǎo)體事業(yè)部負責(zé)人表示,“隨著第三代半導(dǎo)體材料的普及和芯片制程的微縮化,測試測量技術(shù)將面臨更高精度、更高效率的挑戰(zhàn)。未來,我們將深化與產(chǎn)業(yè)鏈伙伴的合作,以模塊化、智能化的測試生態(tài)助力中國半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)升級?!?/p>