ITECH艾德克斯榮獲2025中國IC設計成就獎

全球領先的測試測量技術企業(yè)艾德克斯電子有限公司（ITECH）近日宣布，憑借在半導體測試領域的創(chuàng)新技術與卓越服務，公司榮膺2025中國IC設計成就獎“年度杰出測試測量供應商”。這一行業(yè)權威獎項的獲得，標志著ITECH在半導體測試細分市場的技術領導力與產(chǎn)業(yè)貢獻再獲高度認可。

技術引領，賦能半導體全產(chǎn)業(yè)鏈

作為中國電子產(chǎn)業(yè)鏈上游服務的標桿獎項，中國IC設計成就獎旨在表彰推動產(chǎn)業(yè)發(fā)展的技術創(chuàng)新者。ITECH通過覆蓋半導體材料驗證、晶圓制造、封裝測試全環(huán)節(jié)的測試解決方案，助力客戶突破技術瓶頸。其核心產(chǎn)品包括：

• IT2800系列高精密源/測量單元（SMU）：以0.1μV/10nA超高精度實現(xiàn)半導體器件IV特性測試，為材料研究與芯片研發(fā)提供關鍵數(shù)據(jù)支撐；
• IT6000C高速可編程直流電源與IT6400雙極性電源：通過μs級動態(tài)響應能力，高效完成功率器件雙脈沖測試及動態(tài)參數(shù)分析；
• IT-M3140高壓老化電源與IT-M3900系列低壓大電流電源：滿足HTRB/HTGB/H3TRB等嚴苛可靠性測試需求，保障車規(guī)級芯片與高功率器件的長期穩(wěn)定性。

亮相國際舞臺，展示硬核實力

在2025年3月27-28日舉辦的國際集成電路展覽會暨研討會（IIC Shanghai 2025）上，ITECH攜最新半導體測試方案重磅登場。展會期間，其展臺吸引了來自光電產(chǎn)業(yè)、研究機構及全球頭部芯片企業(yè)的廣泛關注?，F(xiàn)場演示的功率循環(huán)老化測試系統(tǒng)與多通道并行測試平臺，展現(xiàn)了ITECH在復雜測試場景下的高效協(xié)同能力，為晶圓廠與封測企業(yè)降本增效提供新思路。

深耕創(chuàng)新，驅動行業(yè)未來

“此次獲獎是對ITECH技術實力的肯定，更是激勵我們持續(xù)突破的動力?！盜TECH半導體事業(yè)部負責人表示，“隨著第三代半導體材料的普及和芯片制程的微縮化，測試測量技術將面臨更高精度、更高效率的挑戰(zhàn)。未來，我們將深化與產(chǎn)業(yè)鏈伙伴的合作，以模塊化、智能化的測試生態(tài)助力中國半導體產(chǎn)業(yè)升級。”

關于艾德克斯電子有限公司（ITECH）

艾德克斯電子有限公司是全球專業(yè)從事精密測試測量儀器研發(fā)與制造的高新技術企業(yè)，產(chǎn)品廣泛應用于半導體、新能源、汽車電子及航空航天等領域。公司以“高精度、高可靠性、快速響應”為核心競爭力，為全球客戶提供從研發(fā)驗證到量產(chǎn)測試的全生命周期解決方案。