芯片ATE測(cè)試綜述
ATE(Automatic Test Equipment),即自動(dòng)測(cè)試設(shè)備,在電子元器件、尤其是半導(dǎo)體芯片的生產(chǎn)制造流程中扮演著不可或缺的關(guān)鍵角色。隨著現(xiàn)代芯片集成度的不斷提高以及功能的日益復(fù)雜化,對(duì)芯片測(cè)試的要求也水漲船高,ATE憑借其高效的自動(dòng)化測(cè)試能力,不僅大幅提升了測(cè)試效率,更在確保產(chǎn)品質(zhì)量、降低生產(chǎn)成本以及縮短研發(fā)周期等方面發(fā)揮了極為重要的作用,已經(jīng)成為半導(dǎo)體制造行業(yè)不可或缺的核心設(shè)備之一。