ADC/DAC

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電路方案

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  • 一文講透ADC/DAC中的SNR和NSD有什么區(qū)別
    在實(shí)際系統(tǒng)中，信號通常會受到噪聲的干擾，從而產(chǎn)生帶噪聲的信號。簡單來說，信噪比（SNR）就是在給定信號帶寬內(nèi)，信號功率與噪聲功率的比值。通常情況下，這是通過執(zhí)行快速傅里葉變換（簡稱FFT），并在頻域中查看基波信號功率和噪聲譜密度來計(jì)算的。噪聲功率通常是在給定頻率帶寬內(nèi)所有噪聲的積分，不包括基波信號及其諧波。然后，信噪比就只是信號功率與積分后的噪聲譜密度之間的差值。
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  • 干貨速來！重疊頻率計(jì)算器的詳細(xì)使用指南
    本文提供一種快速、容易使用的工具，用來確定鏡像信號的真實(shí)位置和重疊頻率的位置，以及典型頻譜中的諧波頻率。所得數(shù)據(jù)用于分析模/數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)和數(shù)/模轉(zhuǎn)換器(DAC)的動態(tài)特性。
  • ATE引腳電子器件的電平設(shè)置DAC校準(zhǔn)
    摘要 本文提供一種校準(zhǔn)數(shù)模轉(zhuǎn)換器(DAC)的方法，專用于引腳電子器件驅(qū)動器、比較器、負(fù)載、PMU和DPS。DAC具有差分非線性(DNL)和積分非線性(INL)等非線性特性，我們可以通過增益和偏置調(diào)整來盡可能降低這些特性。本文描述如何執(zhí)行這些校準(zhǔn)，以改善電平設(shè)置性能。 簡介 自動化測試設(shè)備(ATE)描述用于一次對單個或多個器件執(zhí)行單次或一系列測試的測試儀器。不同類型的ATE測試電子器件、硬件和半導(dǎo)體