tn系統(tǒng)和tt系統(tǒng)是晶圓制造領(lǐng)域常見的兩種測試系統(tǒng)。tn系統(tǒng)(TestNet)是優(yōu)勢在于高效的多機多站并行測試,主要應(yīng)用于簡單的數(shù)字電路芯片測試;而tt系統(tǒng)(TeradyneTestStation)則適合復(fù)雜的系統(tǒng)集成電路(SoC)測試,可以進行較為完整的模擬環(huán)境測試。
1.tn系統(tǒng)和tt系統(tǒng)的區(qū)別
tn系統(tǒng)和tt系統(tǒng)雖然都是用于測試半導(dǎo)體產(chǎn)品的,但它們之間還是存在明顯的區(qū)別:
- 應(yīng)用范圍:tn系統(tǒng)主要應(yīng)用于數(shù)字電路測試,而tt系統(tǒng)則用于SoC等復(fù)雜芯片的測試;
- 測試速度:由于采用了多機多站并行測試的方式,tn系統(tǒng)在測試速度方面更快;
- 測試精度:tt系統(tǒng)在測試精度方面比tn系統(tǒng)更高;
- 測試費用:由于使用了更為先進的測試技術(shù),tt系統(tǒng)的測試費用相對較高。
2.tn系統(tǒng)和tt系統(tǒng)的發(fā)展歷程
tn系統(tǒng)和tt系統(tǒng)的發(fā)展歷程可以追溯到20世紀80年代初,當(dāng)時中國臺灣計算機芯片制造商對國外IC測試設(shè)備不能適用于芯片的情況感到頭痛,因此開始著手研究自主測試技術(shù)。經(jīng)過多年的發(fā)展,現(xiàn)在tn系統(tǒng)和tt系統(tǒng)已經(jīng)成為晶圓級測試領(lǐng)域的主要測試設(shè)備之一。
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