LAT1367 如何通過(guò)配置GUI tool 測(cè)試STM32WL33的靈敏度

前言

鑒于 STM32WL33 是一顆新出的 Sub 1GHZ SOC 芯片，靈敏度的測(cè)試方法與第一代 Sub1Ghz（SPIRIT1）芯片、第二代 Sub 1Ghz（S2-LP）芯片差異比較大，在這里我整理了該文檔以備解惑用。

測(cè)試平臺(tái)

信號(hào)發(fā)生器與測(cè)試板通過(guò) SMA 連接口以及 clock、data 線相連，信號(hào)發(fā)生器產(chǎn)生一定發(fā)射功率的 GFSK 無(wú)線信號(hào)，測(cè)試板通過(guò) SMA 接口接收該 GFSK 信號(hào)，并通過(guò) PB2(CLOCK)/PB1(DATA)回送給信號(hào)發(fā)生器，由信號(hào)發(fā)生器計(jì)算誤碼率，調(diào)整GFSK 無(wú)線信號(hào)的發(fā)射功率，直至誤碼率為 1%，此時(shí)設(shè)置的發(fā)射功率即為 BER（比特誤碼率）為 1%的靈敏度。

小結(jié)

本篇從測(cè)試環(huán)境的準(zhǔn)備、測(cè)試系統(tǒng)框圖、測(cè)試步驟幾方面著手，給有相關(guān)儀表的客戶提供測(cè)試 STM32WL33 靈敏度的參考。