LAT1419 從BOOT跳轉(zhuǎn)到APP后運(yùn)行失敗的問(wèn)題分析

1、問(wèn)題背景

客戶使用 STM32G0B0 在做產(chǎn)品開(kāi)發(fā)時(shí)碰到一個(gè)問(wèn)題, 當(dāng)程序從 BOOT 程序跳轉(zhuǎn)到 APP 時(shí), APP運(yùn)行失敗. 而 BOOT 程序和 APP 程序單個(gè)運(yùn)行時(shí)均能正常.本文主要是介紹如何追蹤并定位問(wèn)題的方法, 以及所涉及到的工具和文件, 以供開(kāi)發(fā)者參考.

2、問(wèn)題分析

首先, 懷疑是與中斷有關(guān). 在程序從 BOOT 跳轉(zhuǎn)到 APP 的過(guò)程中, 如果來(lái)了中斷, 如果新的中斷向量表還未來(lái)得及更新, 那么中斷還是會(huì)去 BOOT 程序中的向量表以查找中斷入口. 從而導(dǎo)致出現(xiàn)問(wèn)題. 于是建議客戶在跳轉(zhuǎn)前, 先將開(kāi)啟過(guò)的中斷使能都關(guān)閉后測(cè)試下. 結(jié)果反饋問(wèn)題仍然存在.