用于LED中EOS保護的PolyZen器件

2023/10/24 作者：力特奧維斯Littelfuse

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用于LED中EOS保護的PolyZen器件

隨著當今對節(jié)能和降低功耗的需求不斷增長，發(fā)光二極管(led)已成為下一代照明應用的首選解決方案。因此，越來越多的人開始關注防止EOS(電氣過度壓力)事件的損害，具體來說，指的是LED應用可能承受的任何不良電壓、電流或功率。

當EOS事件超過設計規(guī)格的最大要求時，LED應用很容易受到損壞。EOS事件通常是短暫的;這意味著它們發(fā)生的時間很短，通常不到一秒，通常被稱為尖峰(例如，電流尖峰或電壓尖峰)。然而，EOS事件可以是永久性的，例如將電池插入電池供電的LED手電筒中。任何單個EOS事件，無論持續(xù)時間長或短，或任何數(shù)量的事件，都有可能對LED造成損壞。這種損壞既可以表現(xiàn)為立即故障，也可以表現(xiàn)為在EOS事件發(fā)生數(shù)小時后發(fā)生的故障。

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