從全局出發(fā),介紹:
1.測試以及DFT的基本概念、理論基礎(chǔ);
2.DFT工作在芯片設(shè)計中的位置;
3.測試一顆芯片的測試內(nèi)容;
4.DFT的流程以及每步做的事情;
來自【愛芯人/QQ群187291154】
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從全局出發(fā),介紹:
1.測試以及DFT的基本概念、理論基礎(chǔ);
2.DFT工作在芯片設(shè)計中的位置;
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器件型號 | 數(shù)量 | 器件廠商 | 器件描述 | 數(shù)據(jù)手冊 | ECAD模型 | 風(fēng)險等級 | 參考價格 | 更多信息 |
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LM35DZ/NOPB | 1 | National Semiconductor Corporation | Analog Temperature Sensor, ANALOG TEMP SENSOR-VOLTAGE, -.55-1.5V, 0.60Cel, ROUND, THROUGH HOLE MOUNT, PLASTIC, TO-92, 3 PIN |
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$2.29 | 查看 | |
MT9J003I12STCV2-TP | 1 | onsemi | CMOS Image Sensor, 10 MP, 1/2.3", 2000-REEL |
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暫無數(shù)據(jù) | 查看 | |
DS18B20Z+T&R | 1 | Maxim Integrated Products | Serial Switch/Digital Sensor, 12 Bit(s), 0.50Cel, Rectangular, 8 Pin, Surface Mount, 0.150 INCH, LEAD FREE, SOIC-8 |
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$4.21 | 查看 |