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MOSFET關斷過程中的開關損耗如何計算?800字手把手教你搞定這個電路知識點

04/26 10:25
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Part 01、前言

上一篇文章我們介紹了MOSFET導通過程中的開關損耗的計算方法,接下來就講一下MOSFET在關斷過程中的交叉損耗計算,主要是要估算關斷時的交叉時間,然后算出功耗。

MOSFET關斷時,漏源電壓Vds和電流ID不是瞬間變成0的,會有個過渡過程。這段時間里,電壓和電流同時存在,功率Vds × ID就變成了損耗。交叉損耗直接影響MOSFET的發(fā)熱,尤其在高頻開關電路(比如Buck轉(zhuǎn)換器)中,頻率高了,損耗累積起來就不小,散熱得跟上。

Part 02、交叉損耗計算

關斷交叉損耗的計算公式:

Vin:輸入電壓

Io:負載電流

tcrossturnoff:關斷時的交叉時間(也就是電壓電流重疊時間)

fsw:開關頻率

那么我們需要先計算出關斷交叉時間tcrossturnoff:

T2:米勒平臺階段,Vds從低電壓上升到高電壓的時間。

T3:柵極電壓從米勒平臺下降到閾值電壓VT的時間。

計算T2:米勒平臺時間

Vin:輸入電壓,假定是15V

Cgd:柵漏電容,假定是0.75pF

Rdrive:驅(qū)動電阻,假定是1Ω

VT:閾值電壓,假定是1.05V

Io:負載電流,假定是22A

g:MOSFET跨導,假定是100S

代入公式:

T2是米勒平臺階段,柵極電壓被"卡住",因為柵漏電容 Cgd 在放電,VDs 快速上升到輸入電壓,電流ID開始下降。這段時間是關斷損耗的主要部分。

計算T3:柵極放電時間

Tg:柵極放電時間常數(shù):

其中Cg是柵極電容,假定是300pF。

代入公式:

T3是柵極電壓從米勒平臺下降到閾值電壓的時間,MOSFET電流ID已經(jīng)降到0,Vds保持高電壓。

總交叉時間tcrossturnoff:

總關斷交叉損耗Pcrossturnoff:

代入公式:

0.83W是關斷時的交叉損耗,500kHz頻率下,每次關斷都會產(chǎn)生微小損耗,累積起來就是這個數(shù)。

總交叉損耗Pcross:

Pcrossturnon:導通交叉損耗,0.64 W (上一篇文章的計算結(jié)果)

Pcrossturnoff:關斷交叉損耗,0.83 W

總交叉損耗1.47W是MOSFET在開關過程中(導通+關斷)的損耗,加上導通損耗(I × I?× RDS(on)),就可以結(jié)合熱阻來評估總發(fā)熱對應的溫升了。

Part 03、總結(jié)

MOSFET關斷時的交叉損耗主要是T2(米勒平臺)和T3(柵極放電)兩個階段,算下來是0.83W,加上導通損耗,總交叉損耗共1.47W。設計時可以降低驅(qū)動電阻、選低Cgd的MOSFET,或者調(diào)低頻率來優(yōu)化。

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