芯耀
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以下是工作5年的某FT測試工程師列出的50個面試問題，涵蓋了基礎(chǔ)知識、測試工藝、問題分析和解決能力等方面，希望能夠幫到大家。
1、基礎(chǔ)知識
請解釋FT測試的基本流程以及關(guān)鍵步驟。
FT測試與CP測試的主要區(qū)別是什么？
FT測試通常在哪個階段進(jìn)行？它的主要目標(biāo)是什么？
如何理解FT測試中的“良率”？如何計算良率？
什么是三溫測試？為什么在FT測試中使用三溫測試？
在FT測試中，什么是探針卡？它的作用是什么？
請解釋FT測試中的電壓漂移和溫度漂移。
FT測試中的“Trim”項是什么？為什么需要進(jìn)行微調(diào)？
在FT測試中，如何進(jìn)行封裝的質(zhì)量檢驗？
什么是測試規(guī)范（SPEC）？如何確定FT測試的SPEC？
2、測試工藝
FT測試中的主要設(shè)備有哪些？請簡述它們的用途。
如何在FT測試中選擇適合的測試溫度和電壓？
請說明FT測試中常用的功率測試方法。
為什么FT測試中需要進(jìn)行待機測試？它的意義是什么？
什么是“handler”？它在FT測試中起什么作用？
FT測試中如何處理大電流測試？有哪些注意事項？
在FT測試中，如何進(jìn)行靜電放電（ESD）測試？
如何確保FT測試的穩(wěn)定性？有哪些常用的校準(zhǔn)方法？
什么是SOAK測試？它在FT測試中起什么作用？
在FT測試中，如何減少并行測試干擾？
3、問題分析
遇到測試過程中芯片功能異常，如何排查原因？
在FT測試中，如果發(fā)現(xiàn)良率下降，如何快速分析并解決？
如果測試設(shè)備發(fā)生漂移，如何判斷是設(shè)備問題還是芯片問題？
FT測試中，哪些電性參數(shù)的異?？赡苡绊懶酒墓δ埽?/p>
請描述如何檢測芯片封裝中的微小缺陷。
如果發(fā)現(xiàn)封裝后的芯片參數(shù)漂移，該如何處理？
FT測試中如何避免靜電損壞芯片？
遇到同一批次芯片F(xiàn)T良率波動較大，可能原因有哪些？
FT測試中如何處理芯片的過熱問題？
如何判斷FT測試中的信號干擾源？
4、故障分析和解決
遇到芯片在FT測試中電流異常，如何查找根源？
請簡述如何分析芯片在高溫環(huán)境下功能異常的原因。
在FT測試中，如果頻率漂移超出范圍，該如何解決？
如果芯片在低溫測試中失敗，可能的原因有哪些？
如果測試中發(fā)現(xiàn)芯片的關(guān)鍵參數(shù)異常波動，如何解決？
FT測試中出現(xiàn)誤測或漏測的原因有哪些？如何避免？
在FT測試中如何進(jìn)行短路和開路故障的排查？
遇到偶發(fā)性故障，如何使用數(shù)據(jù)分析排查原因？
如何處理FT測試中芯片功能誤判的問題？
如何優(yōu)化FT測試流程以縮短測試時間？
5、專業(yè)發(fā)展與經(jīng)驗
在FT測試工程師崗位中，您有哪些項目經(jīng)驗或成就？
您對FT測試流程優(yōu)化有哪些心得？
您是如何保持自己在FT測試領(lǐng)域的知識更新的？
您是否參與過FT測試方案的設(shè)計或改進(jìn)？如何進(jìn)行的？
您如何確保FT測試的每個步驟都符合質(zhì)量要求？
在FT測試中，您是如何控制成本的？
請談?wù)勀贔T測試過程中遇到的最大挑戰(zhàn)及如何解決的。
在團隊合作中，您如何與設(shè)計工程師或生產(chǎn)團隊配合？
您是否使用過數(shù)據(jù)分析軟件來優(yōu)化FT測試結(jié)果？效果如何？
您未來在FT測試領(lǐng)域的發(fā)展規(guī)劃是什么？
歡迎加入交流群，備注姓名+崗位。
