• 正文
  • 推薦器件
  • 相關(guān)推薦
申請入駐 產(chǎn)業(yè)圖譜

確保晶振頻率穩(wěn)定的因素及改善措施

2024/04/28
2123
加入交流群
掃碼加入
獲取工程師必備禮包
參與熱點(diǎn)資訊討論

電子設(shè)備中,晶振作為關(guān)鍵的時鐘源,其頻率穩(wěn)定性對于設(shè)備的正常運(yùn)行至關(guān)重要。本文將探討影響晶振頻率穩(wěn)定的因素及相應(yīng)的改善措施。

一、溫度變化

環(huán)境溫度的波動是影響晶振頻率穩(wěn)定的最重要因素之一。晶振的諧振頻率會隨著溫度的升降而變化,這一特性被稱為頻率-溫度特性。為了克服溫度對頻率的影響,設(shè)計了恒溫型和溫度補(bǔ)償型晶體振蕩器。

改善措施:

1. 使用恒溫型晶體振蕩器,通過內(nèi)置的恒溫控制系統(tǒng),保持晶體工作在恒定的溫度環(huán)境中。

2. 使用溫度補(bǔ)償型晶體振蕩器,通過將變?nèi)荻O管與石英晶體串聯(lián),抵消溫度變化對諧振頻率的影響。

二、激勵功率的變化

激勵功率對晶振的諧振頻率有顯著影響。如果激勵電流過大或過小,都可能影響石英晶體的老化特性和頻率穩(wěn)定性。

改善措施:

1. 確保激勵功率的穩(wěn)定性,避免過大或過小的激勵電流。

2. 使用穩(wěn)定的電源,減少電源電壓的波動對激勵功率的影響。

三、負(fù)載的變化

負(fù)載的變化也會影響晶振的頻率穩(wěn)定性。當(dāng)負(fù)載變化時,晶振的輸出電壓和電流會發(fā)生變化,從而影響其頻率。

改善措施:

1. 使用穩(wěn)定的負(fù)載,避免負(fù)載的大幅變化。

2. 設(shè)計合理的電路,減少負(fù)載變化對晶振頻率的影響。

四、老化的影響

老化是石英晶振固有的物理現(xiàn)象,其諧振頻率會隨著時間的推移而發(fā)生緩慢的變化。

改善措施:

1. 選擇高品質(zhì)的石英晶振,以減少老化的影響。

2. 定期對晶振進(jìn)行檢測和調(diào)整,確保其在預(yù)定的頻率上穩(wěn)定工作。

晶振頻率穩(wěn)定性對于電子設(shè)備的正常運(yùn)行至關(guān)重要。通過采取上述改善措施,可以有效克服溫度變化、激勵功率變化、負(fù)載變化和老化等因素對晶振頻率穩(wěn)定性的影響,確保設(shè)備的高精度和高穩(wěn)定性。

推薦器件

更多器件
器件型號 數(shù)量 器件廠商 器件描述 數(shù)據(jù)手冊 ECAD模型 風(fēng)險等級 參考價格 更多信息
5M240ZT100I5N 1 Intel Corporation Flash PLD, 14ns, 192-Cell, CMOS, PQFP100, 16 X 16 MM, 0.50 MM PITCH, LEAD FREE, TQFP-100

ECAD模型

下載ECAD模型
$6.8 查看
10M08DCF256I7G 1 Intel Corporation Field Programmable Gate Array, 8000-Cell, CMOS, PBGA256, 17 X 17 MM, 1 MM PITCH, ROHS COMPLIANT, FBGA-256
暫無數(shù)據(jù) 查看
5M80ZE64C5N 1 Intel Corporation Flash PLD, 14ns, 64-Cell, CMOS, PQFP64, 9 X 9 MM, 0.40 MM PITCH, LEAD FREE, PLASTIC, EQFP-64

ECAD模型

下載ECAD模型
$2.33 查看

相關(guān)推薦

登錄即可解鎖
  • 海量技術(shù)文章
  • 設(shè)計資源下載
  • 產(chǎn)業(yè)鏈客戶資源
  • 寫文章/發(fā)需求
立即登錄

JF晶振是由深圳市晶發(fā)電子有限公司是生產(chǎn)的自主品牌、公司2006年成立,是一家從事銷售石英晶體諧振器、晶體振蕩器以及從事晶體配套設(shè)備生產(chǎn)的高新技術(shù)企業(yè)。