在芯片開發(fā)過程中,調(diào)試就要耗費50%左右的開發(fā)時間和精力,這是一個不爭的事實。調(diào)試被認為是半導體芯片設計與驗證行業(yè)面臨的最棘手挑戰(zhàn)之一。本文將全面分析低功耗設計和驗證面臨的各種復雜調(diào)試問題。我們將借助相關示例來說明如何避免或輕松解決這些問題。本文還會重點討論一些低功耗設計可避開的常見陷阱;如不避開,這些陷阱可能引起難以在設計后期調(diào)試的復雜低功耗問題。全面分析低功耗設計和驗證面臨的各種復雜調(diào)試問題。借助相關示例來說明如何避免或輕松解決這些問題。重點討論一些低功耗設計可避開的常見陷阱;如不避開,這些陷阱可能引起難以在設計后期調(diào)試的復雜低功耗問題。